測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:07-10 2025 來自:祥宇精密
影像測量儀的核心部件之一是光學系統(tǒng),包括鏡頭、光源等。如果光學系統(tǒng)存在缺陷,如鏡頭畸變、光源不均勻等問題,都會直接影響測量結果的準確性。例如,鏡頭畸變會導致圖像在邊緣部分出現失真,從而影響測量精度。
影像測量儀在出廠前需要進行嚴格的校準,以確保其測量精度。然而,如果校準過程不規(guī)范或者校準標準不準確,都會導致測量誤差。此外,隨著時間的推移,設備的光學系統(tǒng)和機械結構可能會發(fā)生微小的變化,需要定期重新校準。
影像測量儀的機械結構也會影響測量精度。例如,工作臺的移動精度、導軌的直線度等都會對測量結果產生影響。如果機械結構存在磨損或者松動,都會導致測量誤差。
溫度變化是影響測量精度的一個重要因素。影像測量儀的光學系統(tǒng)和機械結構都會受到溫度的影響。例如,溫度變化會導致材料的熱脹冷縮,從而影響測量結果。因此,在使用影像測量儀時,應盡量保持環(huán)境溫度的穩(wěn)定。
濕度和灰塵也會對測量精度產生影響。高濕度環(huán)境會導致光學系統(tǒng)和機械結構的腐蝕,而灰塵則會附著在鏡頭和工作臺上,影響圖像的清晰度和測量精度。因此,使用影像測量儀時,應保持環(huán)境的清潔和干燥。
操作人員的操作水平直接影響測量結果的準確性。例如,放置工件的位置不準確、調整鏡頭焦距不當等都會導致測量誤差。因此,操作人員需要經過專業(yè)的培訓,掌握正確的操作方法。
影像測量儀在測量過程中會生成大量的數據,這些數據需要經過處理才能得到最終的測量結果。如果數據處理方法不當,也會導致測量誤差。例如,數據處理軟件的算法不準確、參數設置不合理等都會影響測量結果。
工件表面的質量也會影響測量精度。例如,工件表面有劃痕、凹坑等缺陷,會導致圖像的不清晰,從而影響測量結果。因此,在測量前,應確保工件表面的清潔和平整。
不同材質的工件對光線的反射和吸收特性不同,這也會影響測量精度。例如,金屬工件對光線的反射較強,而塑料工件對光線的吸收較強,這些都會導致圖像的不清晰,從而影響測量結果。
400-801-9255