測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:07-22 2025 來自:祥宇精密
祥宇影像測量儀是一種利用光學成像技術和圖像處理算法,對被測物體進行高精度測量的設備。它通過高分辨率攝像頭捕捉物體的圖像,利用先進的圖像處理算法對圖像進行分析,從而實現(xiàn)對物體尺寸、形狀、位置等參數(shù)的精確測量。影像測量儀的主要特點是測量精度高、操作簡便、適用范圍廣,適用于各種精密零部件的測量。
祥宇影像測量儀的工作原理可以分為以下幾個步驟:
圖像捕捉:通過高分辨率攝像頭捕捉被測物體的圖像。攝像頭通常安裝在測量平臺上,可以通過手動或自動方式調整位置,以獲得最佳的圖像效果。
圖像處理:利用先進的圖像處理算法對捕捉到的圖像進行分析。這些算法可以識別圖像中的邊緣、輪廓、特征點等信息,從而實現(xiàn)對物體尺寸、形狀、位置等參數(shù)的精確測量。
數(shù)據(jù)記錄和分析:測量結果會自動記錄和存儲在計算機中,用戶可以通過軟件界面查看和分析測量數(shù)據(jù)。通過數(shù)據(jù)分析,可以及時發(fā)現(xiàn)物體的問題,采取相應的改進措施。
報告生成:根據(jù)測量結果,可以生成詳細的測量報告。報告中包含物體的尺寸、形狀、位置等參數(shù)的測量值,以及與標準值的對比結果。這些信息對于產品質量控制和改進具有重要意義。
祥宇影像測量儀在檢測盲孔時,通常采用以下幾種方法:
側視法是通過從側面捕捉盲孔的圖像,利用圖像處理算法分析盲孔的深度和直徑。這種方法適用于盲孔較淺的情況,能夠快速、準確地測量盲孔的尺寸。
俯視法是通過從上方捕捉盲孔的圖像,利用圖像處理算法分析盲孔的直徑。這種方法適用于盲孔較深的情況,能夠準確測量盲孔的直徑,但無法直接測量盲孔的深度。
三維掃描法是通過多角度捕捉盲孔的圖像,利用三維重建算法生成盲孔的三維模型,從而實現(xiàn)對盲孔深度和直徑的精確測量。這種方法適用于盲孔較深且需要精確測量深度的情況,能夠提供全面的測量數(shù)據(jù)。
400-801-9255